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		<title>デバイス on Infrared Heating Applications</title>
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				<title>半導体デバイスの特性評価用ヒーター</title>
				<link>http://ir-heating-case.com/ja/posts/semiconductor-device-characterization-heater/</link>
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				<description>&lt;p&gt;&lt;img src=&#34;http://ir-heating-case.com/images/0ea7296bcdd661f341d1983d454c4037.png&#34; alt=&#34;半導体デバイスの特性評価用ヒーター&#34;&gt;&lt;/p&gt;&#xA;&lt;p&gt;ファブの現場では、ウェーハの特性評価中に温度が変動すると、歩留まりの予測モデルが崩れてしまい、プロセスの許容範囲も狭くなってしまいます。わずか半度の温度変動であっても、デバイスの限界を隠してしまうことがあります。そのため、何度も再処理を行うと、フォトレジストが損傷したり、時間が無駄になったりします。必要なのは、正確な設定温度を維持できるヒーターです。&lt;/p&gt;</description>
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