<?xml version="1.0" encoding="utf-8" standalone="yes"?>
<rss version="2.0" xmlns:atom="http://www.w3.org/2005/Atom">
	<channel>
		<title>ウェハー on Infrared Heating Applications</title>
		<link>http://ir-heating-case.com/ja/tags/%E3%82%A6%E3%82%A7%E3%83%8F%E3%83%BC/</link>
		<description>Recent content in ウェハー on Infrared Heating Applications</description>
		<generator>Hugo</generator>
		<language>ja</language>
		
		
		
		
			<lastBuildDate>Sun, 31 May 2026 05:06:34 +0800</lastBuildDate>
		
			<atom:link href="http://ir-heating-case.com/ja/tags/%E3%82%A6%E3%82%A7%E3%83%8F%E3%83%BC/index.xml" rel="self" type="application/rss+xml" />
			<item>
				<title>高速ウェーハ乾燥用赤外線</title>
				<link>http://ir-heating-case.com/ja/posts/rapid-wafer-drying-infrared/</link>
				<pubDate>Sun, 31 May 2026 05:06:34 +0800</pubDate>
				<guid>http://ir-heating-case.com/ja/posts/rapid-wafer-drying-infrared/</guid>
				<description>&lt;p&gt;&lt;img src=&#34;http://ir-heating-case.com/images/eeeb9669114c0c0a0b2bef3f902d01a9.png&#34; alt=&#34;高速ウェーハ乾燥用赤外線&#34;&gt;&lt;/p&gt;&#xA;&lt;p&gt;ライン上では、時間は「提案」ではなく境界線である。スピンコート後、ウェハは薄いフォトレジスト膜の状態であり、露光前に条件付けと乾燥が必要となる。ソフトベイクの温度管理が不十分だと、レジストのプロファイルが変動する。露光後のハードベイクで温度ムラがあると、エッチングの許容範囲が崩壊する。最終乾燥工程で水跡が残ったり粒子が発生したりすると、翌朝の歩留まりレポートにその影響が現れる。&lt;/p&gt;</description>
			</item>
	</channel>
</rss>
