<?xml version="1.0" encoding="utf-8" standalone="yes"?>
<rss version="2.0" xmlns:atom="http://www.w3.org/2005/Atom">
	<channel>
		<title>AFM on Infrared Heating Applications</title>
		<link>http://ir-heating-case.com/id/tags/afm/</link>
		<description>Recent content in AFM on Infrared Heating Applications</description>
		<generator>Hugo</generator>
		<language>id</language>
		
		
		
		
			<lastBuildDate>Sun, 07 Jun 2026 04:08:23 +0800</lastBuildDate>
		
			<atom:link href="http://ir-heating-case.com/id/tags/afm/index.xml" rel="self" type="application/rss+xml" />
			<item>
				<title>Pemanas AFM (Mikroskop Gaya Atom)</title>
				<link>http://ir-heating-case.com/id/posts/afm-atomic-force-microscope-heater/</link>
				<pubDate>Sun, 07 Jun 2026 04:08:23 +0800</pubDate>
				<guid>http://ir-heating-case.com/id/posts/afm-atomic-force-microscope-heater/</guid>
				<description>&lt;p&gt;&lt;img src=&#34;http://ir-heating-case.com/images/e359da41a435291bc4b653b358552252.png&#34; alt=&#34;Pemanas AFM (Mikroskop Gaya Atom)&#34;&gt;&lt;/p&gt;&#xA;&lt;p&gt;Di lantai pabrik, pergeseran 0,1°C pada pemanas AFM bukan sekadar gangguan pengukuran. Hal ini dapat mengganggu proses soft bake dan hard bake pada photoresist, serta mengacaukan anggaran termal secara keseluruhan. Ketika keseragaman termal terganggu, kontrol lebar garis dan kepadatan cacat juga akan terpengaruh. Kami merancang pemanas AFM ini untuk menjaga suhu sesuai kebutuhan fisika—langsung pada sampel, di seluruh area pemindaian, dan di dalam ruang bersih Kelas 1–100.&lt;/p&gt;&#xA;&lt;p&gt;&lt;strong&gt;Apa yang penting, secara teknis&lt;/strong&gt;&lt;br&gt;&#xA;Pemanas ini memadukan elemen inframerah gelombang pendek dengan jalur termal yang distabilkan oleh kuarsa. Kombinasi ini menghasilkan pemanasan yang stabil dan terlokalisasi dengan keseragaman ±0,1°C tepat di permukaan wafer. Desainnya tidak menghasilkan partikel selama proses pemanasan dan pendinginan, sehingga jumlah partikel tetap konstan saat pekerjaan yang berkaitan dengan litografi berlangsung.&lt;br&gt;&#xA;Kami menentukan ukuran jejak yang sesuai untuk integrasi AFM, mengutamakan keandalan 24/7, dan menetapkan titik setel yang dapat diulang yang mampu bertahan melalui ribuan siklus termal tanpa mengalami pergeseran. Penyediaan daya disesuaikan dengan batasan alat, dan antarmukanya dirancang agar proses penggantian berlangsung cepat tanpa mengganggu proses.&lt;/p&gt;</description>
			</item>
	</channel>
</rss>
